Deine Suchergebnisse für
Versuchen Sie es mit einer anderen Buchhandlung in Ihrer Nähe.
-
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
M. Grasserbauer, H.J. Dudek + weitere
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-SpektrometrieBuch (Taschenbuch)
74,99 €
Lieferbar in 3 - 5 Tagen
-
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek + weitere
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPSBuch (Gebundene Ausgabe)
143,99 €
Lieferbar in 2 - 3 Wochen
von 2 Treffern werden angezeigt