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Band 50 - 12%

High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials

Aus der Reihe Springer Series in Materials Science
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139,99 € UVP 160,49 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

11.12.2002

Herausgeber

Frank Ernst + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

442

Maße (L/B/H)

24,1/16/3,3 cm

Gewicht

936 g

Auflage

2003

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-41818-4

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

11.12.2002

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

442

Maße (L/B/H)

24,1/16/3,3 cm

Gewicht

936 g

Auflage

2003

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-41818-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • 1 Microcharacterisation of Materials.- 2 Electron Scattering.- 3 Structure Determination by Quantitative High-Resolution Electron Microscopy (Q-HRTEM).- 4 Quantitative Analytical Transmission Electron Microscopy.- 5 Advances in Electron Optics.- 6 Tomography by Atom Probe Field Ion Microscopy.- 7 Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Spectroscopy (STS), Atomic Force Microscopy (AFM).- 8 Multi-Method High-Resolution Surface Analysis with Slow Electrons.- 9 From Microcharacterization to Macroscopic Property: A Pathway Discussed on Metal/Ceramic Composites.- 10 Microstructural Characterization of Materials: An Assessment.