Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
30.04.2009
Verlag
Springer NetherlandSeitenzahl
192
Maße (L/B/H)
23,3/15,5/1,3 cm
Gewicht
426 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-90-481-2359-9
In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines , we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern SAT solvers and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work.
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