• Produktbild: Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design
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Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

19.11.2011

Herausgeber

Manfred Dietrich + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

252

Maße (L/B/H)

24,1/16/2 cm

Gewicht

571 g

Auflage

2012

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6620-9

Beschreibung

Portrait

Dr. Manfred Dietrich leitet die Abteilung Mikroelektronische Systeme am Fraunhofer Institut, Institutsteil Entwurfsautomatisierung, in Dresden. Seit Jahren ist diese Abteilung in verschiedenen Industrie- und Förderprojekten auf dem Gebiet des 3D-Entwurfs integriert; sie arbeitet also aktiv an vorderster Stelle auf diesem neuen Arbeitsfeld mit.

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Erscheinungsdatum

19.11.2011

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

252

Maße (L/B/H)

24,1/16/2 cm

Gewicht

571 g

Auflage

2012

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6620-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • (detailed, two-level toc available, with authors designated and 285 pages targeted)
    Introduction.-Physical and mathematical fundamentals.-Examination of process parameter variations.-Methods of parameter variations.-Consequences for circuit design and case studies.-Conclusion.-Appendices.