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Band 45

Scanning Electron Microscopy Physics of Image Formation and Microanalysis

Aus der Reihe Springer Series in Optical Sciences

341,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.12.2010

Abbildungen

XIV, 529 p.

Herausgeber

P.W. Hawkes

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

529

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/3 cm

Gewicht

814 g

Auflage

Second Edition 1998

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-08372-3

Beschreibung

Rezension

"...this book is both linguistically and scientifically outstanding. It is an inspiring book for beginners and experienced SEM operators alike. The list of references is especially useful. This volume makes an outstanding contribution to the deeper understanding of the SEM."


T Mulvey, Measurement Science and Technology. 11, No12, December 2000

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Erscheinungsdatum

01.12.2010

Abbildungen

XIV, 529 p.

Herausgeber

P.W. Hawkes

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

529

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/3 cm

Gewicht

814 g

Auflage

Second Edition 1998

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-08372-3

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Electron Optics of a Scanning Electron Microscope.- Electron Scattering and Diffusion.- Emission of Backscattered and Secondary Electrons.- Electron Detectors and Spectrometers.- Image Contrast and Signal Processing.- Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence.- Special Techniques in SEM.- Crystal Structure Analysis by Diffraction.- Elemental Analysis and Imaging with X-Rays.