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  • Produktbild: Progress in Transmission Electron Microscopy 1
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Band 38 - 10%

Progress in Transmission Electron Microscopy 1 Concepts and Techniques

Aus der Reihe Springer Series in Surface Sciences
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143,99 € UVP 160,49 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.12.2010

Abbildungen

XVI, 367 p.

Herausgeber

Xiao-Feng Zhang + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

367

Maße (B/H)

15,5/23,5 cm

Gewicht

587 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-08717-2

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.12.2010

Abbildungen

XVI, 367 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

367

Maße (B/H)

15,5/23,5 cm

Gewicht

587 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2001

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-08717-2

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Heidelberger Platz 3
14197 Berlin
Deutschland
Email: sdc-bookservice@springer.com
Url: www.springer.com
Telephone: +49 30 827870
Fax: +49 30 8214091

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  • 1 The Modern Microscope Today.- 2 The Quest for Ultra-High Resolution.- 3 Z-Contrast Imaging in the Scanning Transmission Electron Microscope.- 4 Inelastic Scattering in Electron Microscopy-Effects, Spectrometry and Imaging.- 5 Quantitative Analysis of High-Resolution Atomic Images.- 6 Electron Crystallography-Structure determination by combining HREM, Crystallographic image processing and electron diffraction.- 7 Electron Amorphography.- 8 Weak-Beam Electron Microscopy.- 9 Point Group and Space Group Identification by Convergent Beam Electron Diffraction.- 10 Advanced Techniques in TEM Specimen Preparation.