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Produktbild: Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

146,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.11.2010

Abbildungen

XII, 159 illus. in color., farbige Illustrationen

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

332

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/1,9 cm

Gewicht

643 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-4674-4

Beschreibung

Rezension

This handbook should find its way to the reference bookshelf of all imaging laboratories. It should also become required reading for anyone being trained for SEM work, or anyone who might need to have their samples examined by using such techniques. In that way, it will be less likely that deficient results will be published and that the full potential of the SEM be realized.
-- Iolo ap Gwynn, Microscopy and Microanalysis (2010)

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.11.2010

Abbildungen

XII, 159 illus. in color., farbige Illustrationen

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

332

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/1,9 cm

Gewicht

643 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-4674-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

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  • Sample Collection and Selection.- Sample Preparation Tools.- Sample Support.- Sample Embedding ?and Mounting.- Sample Exposure.- Sample Dehydration.- Sample Stabilization for Imaging in the SEM.- Sample Stabilization to Preserve Chemical Identity.- Sample Cleaning.- Sample Surface Charge Elimination.- Sample Artifacts and Damage.- Additional Sources of Information.