Produktbild: Messung und Modellierung paralleler und verteilter Rechensysteme

Messung und Modellierung paralleler und verteilter Rechensysteme

49,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.03.1995

Abbildungen

mit 37 Abbildungen

Verlag

Vieweg & Teubner

Seitenzahl

280

Maße (L/B/H)

24,4/17/1,6 cm

Gewicht

424 g

Auflage

1995

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-519-02144-5

Beschreibung

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.03.1995

Abbildungen

mit 37 Abbildungen

Verlag

Vieweg & Teubner

Seitenzahl

280

Maße (L/B/H)

24,4/17/1,6 cm

Gewicht

424 g

Auflage

1995

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-519-02144-5

Herstelleradresse

Vieweg+Teubner Verlag
Abraham-Lincoln-Straße 46
65189 Wiesbaden
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Messung und Modellierung paralleler und verteilter Rechensysteme
  • Kausalität in Computersystemen.- Monitoring verteilter und paralleler Rechensysteme.- Ereignisspuranalyse.- Leistungsbewertung mit Modellen.- Die Integration von Monitoring und Modellierung.