Teoría Física de Rejillas de Amplitud y Fase Aplicaciones en la Prueba de Ronchi
-
- Spanisch ausgewählt
34,99 €
UVP
39,00 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
03.11.2011
Verlag
Editorial Académica EspañolaSeitenzahl
92
Maße (L/B/H)
22/15/0,6 cm
Gewicht
155 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Spanisch
ISBN
978-3-8465-7030-2
El objetivo fundamental del trabajo que se presenta consiste en establecer las características de diversos tipos de rejillas de difracción, a través del estudio de el espectro de difracción que generan y de los patrones de Ronchi característicos de cada uno de ellas. El modelado teórico de las rejillas se lleva acabo aplicando dos enfoques comparativos: uno que considera componentes espaciales para generar el perfil de las rejillas y otro que genera el perfil con componentes frecuenciales. Los resultados obtenidos a través del modelado teórico se llevaran a la práctica mediante la construcción de las rejillas simuladas, impresas sobre acetato corriente desde una impresora láser. La caracterización de las rejillas mediante el modelado teórico de las rejillas y de los patrones de Ronchi junto con la validación experimental es el objetivo más importante de este trabajo, quedando como objetivo secundario pero no menos importante algunas aplicaciones de las rejillas construidas.
Kundinnen und Kunden meinen
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kund*innen durch Ihre Meinung
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für Ihr Feedback
Wir nutzen Ihr Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte haben Sie Verständnis, dass wir Ihnen keine Rückmeldung geben können. Falls Sie Kontakt mit uns aufnehmen möchten, können Sie sich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice