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Band 43 - 13%

Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.03.2012

Herausgeber

Hans-Joachim Wunderlich

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

257

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,5 cm

Gewicht

421 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-94-007-3093-9

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.03.2012

Herausgeber

Hans-Joachim Wunderlich

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

257

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,5 cm

Gewicht

421 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-94-007-3093-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Contributing Authors. Preface. To Christian: a Real Test & Taste Expert. From LAAS to LIRMM and Beyond.

    1. Open Defects in Nanometer Technologies; J. Figueras, R. Rodríguez-Montañés, D. Arumí

    2. Models for Bridging Defects; M. Renovell, F. Azais, J. Figueras, R. Rodriguez-Montanes, D. Arumi

    3. Models for Delay Faults; S.M. Reddy

    4. Fault Modeling for Simulation and ATPG; B.Becker, I.Polian

    5. Generalized Fault Modeling for Logic Diagnosis; H.-J. Wunderlich, S. Holst

    6. Models in Memory Testing; S.Di Carlo, P.Prinetto

    7. Models for Power-Aware Testing; P.Girard, H.-J.Wunderlich

    8. Physical Fault Models and Fault Tolerance; J.Arlat, Y.Crouzet

    Index.