Mapping Nanotechnology Innovations and Knowledge Global and Longitudinal Patent and Literature Analysis
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Sprache:Englisch
106,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
10.12.2008
Verlag
Springer New YorkSeitenzahl
330 (Printausgabe)
Dateigröße
28061 KB
Sprache
Englisch
EAN
9780387716206
This book defines the application of Information Technology's systematic and automated knowledge mapping methodology to collect, analyze and report nanotechnology research on a global basis. It offers a systematic presentation of the state-of-the-art of nanotechnology. Coverage includes basic analysis, content analysis, and citation network analysis of comprehensive nanotechnology findings across technology domains, inventors, institutions, and countries. The book explores many sources in detail including, the nanotechnology patent and literature databases from the US patent Office (USPTO), the European Patent Office (EPO), and the Japanese Patent Office (JPO).
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