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Band 151

Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI

Aus der Reihe NATO Science Series E:

48,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.09.2011

Herausgeber

F. Lombardi + weitere

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

544

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/3 cm

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1988

Sprache

Englisch

ISBN

978-94-010-7134-5

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.09.2011

Herausgeber

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

544

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/3 cm

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1988

Sprache

Englisch

ISBN

978-94-010-7134-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • 2. Trends in Design for Testability.- 3. Statistical Testing.- 4. Fault Models.- 5. Fault Detection and Design for Testability of CMOS Logic Circuits.- 6. Parallel Computer Systems Testing and Integration.- 7. Analog Fault Diagnosis.- 8. Spectral Techniques for Digital Testing.- 9. Logic Verification, Testing and their Relationship to Logic Synthesis.- 10. Proving the next Stage from Simulation.- 11. Petri Nets and their Relation to Design Validation and Testing.- 12. Functional Test of ASICS and Boards.- 13. Fault Simulation Techniques — Theory and Practical Examples.- 14. Threshold-value Simulation and Test Generation.- 15. Behavioral Testing of Programmable Systems.- 16. Testing of Processing Arrays.- 17. Old and New Approaches for the Repair of Redundant Memories.- 18. Reconfiguration of Orthogonal Arrays by Front Deletion.- 19. Device Testing and SEM Testing Tools.- 20. Advances in Electron Beam Testing.