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  • Produktbild: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
  • Produktbild: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

97,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

08.06.2013

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

454

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2,6 cm

Gewicht

683 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1986

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4757-9029-0

Beschreibung

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

08.06.2013

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

454

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2,6 cm

Gewicht

683 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1986

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4757-9029-0

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • 1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.