Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures
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Sprache:Englisch
95,99 €
UVP
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
11.10.2014
Abbildungen
XXVII, 195 p.
Verlag
Springer UsSeitenzahl
195
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/1,3 cm
Gewicht
347 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4899-8254-4
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