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Produktbild: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

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96,99 € UVP 109,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.10.2014

Abbildungen

XVIII, 193 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

193

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

330 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8847-8

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.10.2014

Abbildungen

XVIII, 193 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

193

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

330 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8847-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.