Produktbild: Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics

Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics Time Dependent Failure Mechanisms

49,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

26.09.2016

Abbildungen

VIII, 74 illus., 33 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen

Verlag

Springer

Seitenzahl

105

Maße (L/B/H)

23,6/15,6/1,2 cm

Gewicht

190 g

Auflage

1st ed. 2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-319-43218-2

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

26.09.2016

Abbildungen

VIII, 74 illus., 33 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen

Verlag

Springer

Seitenzahl

105

Maße (L/B/H)

23,6/15,6/1,2 cm

Gewicht

190 g

Auflage

1st ed. 2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-319-43218-2

Herstelleradresse

Springer Nature Customer Service Center GmbH
Europaplatz 3
69115 Heidelberg
DE
ProductSafety@springernature.com

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics
  • Introduction.- General Theories.- Measurement Tools and Test Structures.- Experimental Techniques.- Breakdown Experiments.- Kinetics of Charge Carrier Confinement in Thin Dielectrics.- Theory of Dielectric Breakdown in Nanoporous Thin Films.- Dielectric Breakdown in Copper Interconnects.- Reconsidering Conventional Models.