VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
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Sprache:Englisch
49,99 €
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
13.09.2016
Abbildungen
XIII, 121 illus., schwarz-weiss Illustrationen
Herausgeber
Youngsoo Shin + weitereVerlag
SpringerSeitenzahl
223
Maße (L/B/H)
24,1/16/1,9 cm
Gewicht
530 g
Auflage
1st edition 2016
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-319-46096-3
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