Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis Theory and Applications
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Sprache:Englisch
138,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
27.08.2016
Abbildungen
XIII, 318 p. 108 illus., 37 illus. in color.
Verlag
Springer BerlinSeitenzahl
318
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/1,9 cm
Gewicht
505 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st ed. 2014
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-662-52054-3
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