Transmission Electron Microscopy Diffraction, Imaging, and Spectrometry
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Form:Einzelkauf Download
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Sprache:Englisch
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Verlag:Springer
85,59 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
24.08.2016
Herausgeber
C. Barry Carter + weitereVerlag
SpringerSeitenzahl
518 (Printausgabe)
Dateigröße
45223 KB
Sprache
Englisch
EAN
9783319266510
Topics covered include sources, in-situ experiments, electron diffraction, Digital Micrograph, waves and holography, focal-series reconstruction and direct methods, STEM and tomography, energy-filtered TEM (EFTEM) imaging, and spectrum imaging. The range and depth of material makes this companion volume essential reading for the budding microscopist and a key reference for practicing researchers using these and related techniques.
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