Radiation Hardened CMOS Integrated Circuits for Time-Based Signal Processing
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
07.05.2018
Abbildungen
131 schwarz-weiße und 19 farbige Abbildungen, Bibliographie
Verlag
SpringerSeitenzahl
183
Maße (L/B/H)
24,4/15,9/2 cm
Gewicht
470 g
Auflage
1st ed. 2018
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-319-78615-5
This book presents state-of-the-art techniques for radiation hardened high-resolution Time-to-Digital converters and low noise frequency synthesizers. Throughout the book, advanced degradation mechanisms and error sources are discussed and several ways to prevent such errors are presented. An overview of the prerequisite physics of nuclear interactions is given that has been compiled in an easy to understand chapter. The book is structured in a way that different hardening techniques and solutions are supported by theory and experimental data with their various tradeoffs.
- Based on leading-edge research, conducted in collaboration between KU Leuven and CERN, the European Center for Nuclear Research
- Describes in detail advanced techniques to harden circuits against ionizing radiation
- Provides a practical way to learn and understand radiation effects in time-based circuits
- Includes an introduction to the underlying physics, circuitdesign, and advanced techniques accompanied with experimental data
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