VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers
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Form:Einzelkauf Download
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Sprache:Englisch
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Verlag:Springer Nature Singapore
106,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
17.08.2019
Herausgeber
Anirban Sengupta + weitereVerlag
Springer Nature SingaporeSeitenzahl
775 (Printausgabe)
Dateigröße
113133 KB
Sprache
Englisch
EAN
9789813297678
This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.
The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
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