• Produktbild: Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability
  • Produktbild: Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability

Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability

71,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

07.10.2019

Verlag

Taylor and Francis

Seitenzahl

224

Maße (L/B/H)

23,4/15,6/1,2 cm

Gewicht

453 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-367-40006-4

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

07.10.2019

Verlag

Taylor and Francis

Seitenzahl

224

Maße (L/B/H)

23,4/15,6/1,2 cm

Gewicht

453 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-367-40006-4

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

Die Leseprobe wird geladen.
  • Produktbild: Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability
  • Produktbild: Guidebook for Managing Silicon Chip Reliability
  • Introduction How Devices Fail Intrinsic Mechanisms Extrinsic Mechanisms Intrinsic Device Sensitivities Device Transconductance Sensitivities Leakage Current Sensitivities Breakdown Issues Electromigration Description of the Mechanism Modeling of the Mechanism How to Detect/Test How to Manage Hot Carrier Aging Description of the Mechanism Modeling of the Mechanism Detection of Hot Carrier Aging Avoidance of Hot Carrier Aging Time Dependent Dielectric Breakdown Description of the Mechanism Modeling of the Mechanism How to Detect/Test How to Avoid and Manage Mechanical Stress Induced Migration Description of the Mechanism Modeling of the Mechanism How to Detect/Test How to Manage Alpha Particle Sensitivity Description of the Mechanism Modeling of the Mechanism Prevention of Alpha Particle Induced Damage Electrostatic Discharge and Electrical Overstress Description of the Mechanism Modeling of the Mechanism Avoiding ESD/EOS Failures Latch-Up Description of the Mechanism How to Detect How to Avoid Qualification Qualification Testing Virtual Qualification Screening Functional Tests Burn-In Tests Iddq Tests Design for Reliability Design System Effective Management of Wear-Out Failures Extrinsic Reliability Mechanisms Infant Mortality Failure Mechanisms Circuit Sensitivities Summary