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  • Produktbild: Applied Scanning Probe Methods III
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Applied Scanning Probe Methods III Characterization

Aus der Reihe NanoScience and Technology
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139,99 € UVP 160,49 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

22.02.2006

Abbildungen

XLIV, 270 illus., 2 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen

Herausgeber

Bharat Bhushan + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

378

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,8 cm

Gewicht

799 g

Auflage

2006

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-26909-0

Beschreibung

Rezension

From the reviews:



"The editors have done a good job in making the various chapters quite readable and most of the chapters are well written on a level that will be accessible to most readers. … As is usually the case with Springer books, these volumes have been beautifully printed, illustrated, and nicely bound for long term durability." (Gary J. Long & Fernande Grandjean, Physicalia Magazine, Vol. 29 (4), 2007

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Erscheinungsdatum

22.02.2006

Abbildungen

XLIV, 270 illus., 2 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

378

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,8 cm

Gewicht

799 g

Auflage

2006

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-26909-0

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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