Thermal Testing of Integrated Circuits
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- Hardcover ausgewählt
- Taschenbuch
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Sprache:Englisch
97,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
30.06.2002
Abbildungen
XIV, 102 illus., schwarz-weiss Illustrationen
Verlag
Springer UsSeitenzahl
204
Maße (L/B/H)
24,1/16/1,8 cm
Gewicht
547 g
Auflage
2002
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4020-7076-1
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