Thermal Testing of Integrated Circuits
-
- Hardcover
- Taschenbuch ausgewählt
-
Sprache:Englisch
97,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
21.09.2011
Abbildungen
XIV, 102 illus., schwarz-weiss Illustrationen
Verlag
Springer UsSeitenzahl
204
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/1,3 cm
Gewicht
349 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st ed. 2002
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4419-5287-5
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für Ihr Feedback
Wir nutzen Ihr Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte haben Sie Verständnis, dass wir Ihnen keine Rückmeldung geben können. Falls Sie Kontakt mit uns aufnehmen möchten, können Sie sich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice