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Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques

Aus der Reihe NanoScience and Technology
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139,99 € UVP 160,49 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

18.10.2006

Herausgeber

Bharat Bhushan + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

344

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,7 cm

Gewicht

752 g

Auflage

2007

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-37315-5

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

18.10.2006

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

344

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,7 cm

Gewicht

752 g

Auflage

2007

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-540-37315-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Integrated Cantilevers and Atomic Force Microscopes.- Electrostatic Microscanner.- Low-Noise Methods for Optical Measurements of Cantilever Deflections.- Q-controlled Dynamic Force Microscopy in Air and Liquids.- High-Frequency Dynamic Force Microscopy.- Torsional Resonance Microscopy and Its Applications.- Modeling of Tip-Cantilever Dynamics in Atomic Force Microscopy.- Combined Scanning Probe Techniques for In-Situ Electrochemical Imaging at a Nanoscale.- New AFM Developments to Study Elasticity and Adhesion at the Nanoscale.- Near-Field Raman Spectroscopy and Imaging.