Gutscheinbedingungen

Gültig bis 13.07.2026 | Gültig für Spielzeug (außer Tonieboxen & ausgewählte Tonies), Filme, Musik, Software, Games, Schreibwaren, Hörbücher und Hörbuch-Downloads (außer Abo & Shelfies), gebrauchte Bücher, nicht preisgebundene Bücher und Kalender | Einlösbar unter osiander.de und in der Osiander App | Click & Collect nur mit Online-Zahlung (Paypal/Kreditkarte) vorab | Einzelne Artikel können ausgeschlossen sein | Nicht kombinierbar mit anderen Gutscheinen oder Preisaktionen | Nur einmal pro Einkauf einlösbar | Gutschein wird auf max. 500€ Bestellwert angerechnet | Keine Barauszahlung | Digitale Hörbücher nur für Android | Nicht gültig für preisgebundene Artikel (aufgrund der Buchpreisbindung sind Gutscheine nicht auf Bücher, eBooks, Presse einlösbar), tolino eReader & Zubehör, Elektronik, Geschenke & Trends, Abonnements & Flatrates, Geschenkkarten, Versandkosten und Services

  • Produktbild: Applied Scanning Probe Methods V
  • Produktbild: Applied Scanning Probe Methods V

Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques

105,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

25.11.2010

Herausgeber

Bharat Bhushan + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

344

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/2,2 cm

Gewicht

593 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-07211-6

Beschreibung

Portrait

Dr. Bharat Bhushan received an M.S. in mechanical engineering from the Massachusetts Institute of Technology in 1971, an M.S. in mechanics and a Ph.D. in mechanical engineering from the University of Colorado at Boulder in 1973 and 1976, respectively, an MBA from Rensselaer Polytechnic Institute at Troy, NY in 1980, Doctor Technicae from the University of Trondheim at Trondheim, Norway in 1990, a Doctor of Technical Sciences from the Warsaw University of Technology at Warsaw, Poland in 1996, and Doctor Honoris Causa from the Metal-Polymer Research Institute of National Academy of Sciences at Gomel, Belarus in 2000. He is a registered professional engineer (mechanical) and presently an Ohio Eminent Scholar and The Howard D. Winbigler Professor in the Department of Mechanical Engineering, Graduate Research Faculty Advisor in the Department of Materials Science and Engineering, and the Director of the Nanotribology Laboratory for Information Storage & MEMS/NEMS (NLIM) at the Ohio State University, Columbus, Ohio. He is an internationally recognized expert of tribology on the macro- to nanoscales, and is one of the most prolific authors in the field. He is considered by some a pioneer of the tribology and mechanics of magnetic storage devices and a leading researcher in the fields of nanotribology and nanomechanics using scanning probe microscopy and applications to micro/nanotechnology.

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

25.11.2010

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

344

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/2,2 cm

Gewicht

593 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-07211-6

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: GPSR Kontakt

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: Applied Scanning Probe Methods V
  • Produktbild: Applied Scanning Probe Methods V
  • Integrated Cantilevers and Atomic Force Microscopes.- Electrostatic Microscanner.- Low-Noise Methods for Optical Measurements of Cantilever Deflections.- Q-controlled Dynamic Force Microscopy in Air and Liquids.- High-Frequency Dynamic Force Microscopy.- Torsional Resonance Microscopy and Its Applications.- Modeling of Tip-Cantilever Dynamics in Atomic Force Microscopy.- Combined Scanning Probe Techniques for In-Situ Electrochemical Imaging at a Nanoscale.- New AFM Developments to Study Elasticity and Adhesion at the Nanoscale.- Near-Field Raman Spectroscopy and Imaging.