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Band 193 - 10%

In-situ Materials Characterization Across Spatial and Temporal Scales

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

10.04.2014

Abbildungen

XI, 124 illus., 78 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen

Herausgeber

Alexander Ziegler + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

256

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,1 cm

Gewicht

571 g

Auflage

2014

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-45151-5

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Erscheinungsdatum

10.04.2014

Abbildungen

XI, 124 illus., 78 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

256

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,1 cm

Gewicht

571 g

Auflage

2014

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-45151-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Introduction Chapter 1 Scanning Probe Microscopy on 'Live' Catalysts Chapter 2 In-situ X-ray diffraction at synchrotron and Free-Electron-Laser sources Chapter 3 Advanced in situ transmission electron microscopy Chapter 4 Ultra-fast TEM and Electron Diffraction Chapter 5 In-Situ Materials Characterization with FIB/SEM. Chapter 6 In-situ X-ray photoelectron spectroscopy Chapter 7 “Real-time” probing of photo-induced molecular processes in liquids by ultrafast X-ray absorption spectroscopy Chapter 8 Time-Resolved Neutron Scattering Chapter 9 Novel Detectors for Ultra-fast XRD, TEM and ED Characterization