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Produktbild: In-situ Materials Characterization
Band 193

In-situ Materials Characterization Across Spatial and Temporal Scales

Aus der Reihe Springer Series in Materials Science

97,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.08.2016

Abbildungen

XI, 256 p. 124 illus., 78 illus. in color.

Herausgeber

Alexander Ziegler + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

256

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,5 cm

Gewicht

411 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2014

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-51976-9

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.08.2016

Abbildungen

XI, 256 p. 124 illus., 78 illus. in color.

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

256

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,5 cm

Gewicht

411 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2014

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-51976-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: In-situ Materials Characterization
  • Scanning Probe Microscopy on 'Live' Catalysts.- In-situ X-ray diffraction at synchrotron and Free-Electron-Laser sources.- Advanced in situ transmission electron microscopy.- Ultra-fast TEM and Electron Diffraction.- In-Situ Materials Characterization with FIB/SEM.- In-situ X-ray photoelectron spectroscopy.- “Real-time” probing of photo-induced molecular processes in liquids by ultrafast  X-ray absorption spectroscopy.- Time-Resolved Neutron Scattering.- Novel Detectors for Ultra-fast XRD, TEM and ED Characterization.