Transmission Electron Microscopy Diffraction, Imaging, and Spectrometry
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
05.09.2016
Abbildungen
XXXIII, 300 illus., schwarz-weiss Illustrationen
Herausgeber
C. Barry Carter + weitereVerlag
SpringerSeitenzahl
518
Maße (L/B/H)
28,5/21,5/3,4 cm
Gewicht
1465 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-319-26649-7
Topics covered include sources, in-situ experiments, electron diffraction, Digital Micrograph, waves and holography, focal-series reconstruction and direct methods, STEM and tomography, energy-filtered TEM (EFTEM) imaging, and spectrum imaging. The range and depth of material makes this companion volume essential reading for the budding microscopist and a key reference for practicing researchers using these and related techniques.
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