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Advances in X-Ray Analysis Volume 37

48,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

05.11.2012

Herausgeber

John V. Gilfrich + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

756

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/4,2 cm

Gewicht

1446 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1994

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-6077-3

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

05.11.2012

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

756

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/4,2 cm

Gewicht

1446 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1994

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-6077-3

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

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  • I. Impact of Computers on X-ray Analysis.- II. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters.- III. Search/Match Methods, Phase Identification.- IV. Diffraction from Single Crystals and Epitaxial Films.- V. X-ray Characterization of Films and Surface Layers.- VI. Strain and Stress Determination, X-ray Fractography, Diffraction Peak Broadening Analysis.- VII. Advances in Detectors and Counting Electronics.- VIII. XRD Techniques and Instrumentation, Non-Ambient Applications, Texture, Other Applications.- IX. X-ray Optics, Monochromators and Synthetic Multilayers.- X. Total Reflection XRF Applications and Instrumentation, Other XRF Techniques and Instrumentation.- XI. Mathematical Techniques in X-ray Spectrometry.- XII. Geological and Other Applications of XRS.- Author Index.