Advances in X-Ray Analysis Volume 35B
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- Hardcover
- Taschenbuch ausgewählt
- eBook
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Sprache:Englisch
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Auflage:Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
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49,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
21.11.2012
Herausgeber
C.S. Barrett + weitereVerlag
Springer UsSeitenzahl
641
Maße (L/B/H)
24,4/17/3,5 cm
Gewicht
1101 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4613-6532-7
Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
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